Исследование морфологии поверхности и химического состава проводящих и диэлектрических объектов на растровом электронном микроскопе РЭМ-106

 

В лаборатории электронной микроскопии проводятся исследования рельефа поверхности различных объектов в твердой фазе и определение элементного состава объектов методом рентгеновского микроанализа по энергиям квантов характеристического рентгеновского излучения в двух режимах: высокого и низкого вакуума.

  • исследование морфологии поверхности объектов;
  • получение объемного изображения исследуемых объектов;
  • исследование биологических объектов в твердой фазе;
  • наблюдение магнитных полей объектов;
  • проведение микроанализа в диапазоне элементов от 6С до 92U.  
Дефекты в эпитаксиальных пленках ферритов-гранатовМагнитные области в эпитаксиальных пленках ферритов-гранатов
Формы микрокристаллов бората железаФормы микрокристаллов бората железа
Торцы волоконно-оптических световодов  (композитный контраст)Фрагмент панциря гусеницы
Микроанализ элементного состава эпитаксиальной пленки феррита-граната

Микроанализ элементного состава эпитаксиальной пленки феррита-граната

Микроанализ элементного состава кристаллов бората железа

Микроанализ элементного состава кристаллов бората железа

 

 

Поделиться в соц. сетях

Опубликовать в Google Buzz
Опубликовать в Google Plus
Опубликовать в LiveJournal
Опубликовать в Мой Мир
Опубликовать в Одноклассники